服務熱線
0531-88873312
顯微顆粒圖像分析儀主要性能特點：
高分辨采集系統：由精密光學顯微鏡、專業高清晰攝像機和高分辨率圖像采集卡*組合，并支持黑白和彩色兩種圖像采集方式，便于采集到更清晰、更真實的圖像；
直觀的反映顆粒形貌：將顆粒現時的形貌實時地反映到計算機屏幕上，使用戶能夠直觀的看到，以更全面地了解顆粒的各種屬性；
圖片自動處理功能：對采集的圖像可以自動地完成消除顆粒粘連、去除雜點、消除邊界不完整顆粒、填補顆粒空心區域、平滑顆粒邊緣等一系列圖片處理過程，以保證其測試準確性。
顯微顆粒圖像分析儀圖像拼接功能，增強數據代表性：圖像拼接功能的加入，可以將多幅圖片拼接成一幅圖片后再處理和分析，彌補了單張圖因視野小而導致采集數量少的弊端，增加了參與分析的顆粒數量，增強了數據的代表性。
強大的數據分析功能：不僅可以對單個顆粒進行截面積、體積、粒徑等參數進行分析，而且對整個顆粒群按數量、體積、面積等不同的統計方式進行頻率和累計分布以及表征整個分布特征的一系列參數，zui終以數據表、曲線圖或柱狀圖等不同的表現方式輸出測試結果；
分辨特性顆粒：可準確分析顆粒樣品的長徑比、長寬比、龐大率、球形度、表面率等多種表征顆粒形狀的常用參數，輕易地分辨出針狀及其他特性顆粒。
主要技術參數
規格型號 | Winner99 |
測試范圍 | 1-6000μm |
準確性 | <5% |
重復性 | <5% |
分散方式 | 玻片制樣 |
成像元件 | 1/3英寸CCD |
zui大分辨率 | 800×600 |
整體分布特征參數 | D10、D50（中位徑）、D90等顆粒分布特征參數 |
統計方式 | 按數量、體積、面積等方式分析顆粒的頻率、累計分布 |
統計平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用統計平均徑 |
形狀參數 | 長徑比、龐大率、球形度、表面率等 |
體積 | 60mm×240mm×500mm |
重量 | 10Kg |